Arşiv logosu
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
Arşiv logosu
  • Koleksiyonlar
  • DSpace İçeriği
  • Analiz
  • Türkçe
  • English
  • Giriş
    Yeni kullanıcı mısınız? Kayıt için tıklayın. Şifrenizi mi unuttunuz?
  1. Ana Sayfa
  2. Yazara Göre Listele

Yazar "Gündoğdu, Y." seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
Sayfa Başına Sonuç
Sıralama seçenekleri
  • Yükleniyor...
    Küçük Resim
    Öğe
    Nonlinear optical properties of zinc oxide thin films produced by pulsed laser deposition
    (ELSEVIER, 2019) Kepceoğlu, A.; Gezgin, S. Yiğit; Gündoğdu, Y.; Küçükçelebi, H.; Kılıç, H. S.
    In this work, the nonlinear optical properties of Zinc Oxide (ZnO) thin films produced on microscope slide glass substrates at room temperature (RT) using Pulsed Laser Deposition (PLD) method has been presented. PLD system consists of a vacuum chamber (pumped by a turbo molecular pump, backed with a rotary pump), rotating sample and substrate holders, optical thickness measurement system, infrared temperature measurement system and a nanosecond laser system. Previously deposition vacuum chamber evacuated down to similar to 10(-8) mbar and deposition was taken place about 1.3x10(-1) mbar oxygen background gas pressure value. Morphological properties of thin films were obtained by Atomic Force Microscopy (AFM) that shows homogenous and smooth film structure. Thin films crystallinity were investigated by using X-Ray Diffraction (XRD) method and showed that polycrystalline ZnO structure with the largest peak corresponding to (002) orientation but some films contain Zn with (101) orientation. The thicknesses of the films were deduced from reflectance measurement using a fitting software and crosschecked with profilometer and AFM measurements. The thickness of the films ranged between 10 nm and 220 nm. Linear optical properties were obtained by using UV-VIS Spectrometer. Furthermore, we presented the nonlinear optical properties of the ZnO thin films that were obtained by the z-scan method. (C) 2019 Elsevier Ltd. All rights reserved.

| Selçuk Üniversitesi | Kütüphane | Açık Erişim Politikası | Rehber | OAI-PMH |

Bu site Creative Commons Alıntı-Gayri Ticari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile korunmaktadır.


Selçuk Üniversitesi Kütüphane ve Dokümantasyon Daire Başkanlığı, Konya, TÜRKİYE
İçerikte herhangi bir hata görürseniz lütfen bize bildirin

DSpace 7.6.1, Powered by İdeal DSpace

DSpace yazılımı telif hakkı © 2002-2025 LYRASIS

  • Çerez Ayarları
  • Gizlilik Politikası
  • Son Kullanıcı Sözleşmesi
  • Geri Bildirim