Azacrown sübstitüe yeni vic-dioksim ligandları ile geçiş metal komplekslerinin sentezi ve elektrokimyasal özelliklerinin incelenmesi

Bu çalışmada anti-kloroglioksim ve anti-klorofenilglioksimin N-(4-aminofenil)aza-15-crown-5 ile reaksiyonu sonucu anti-N-(4-aminofenil)aza-15-crown-5 glioksim ve anti-N-(4-aminofenil)aza-15-crown-5 fenilglioksim ligandları ile bu ligandların Ni(II), Cu(II), Co(II), Cd(II), Zn(II) kompleksleri sentezlenmiştir. Elde edilen bileşiklerin karakterizasyonları FT-IR, Uv-vis, 1D NMR (1H, 13C, DEPT), 2D NMR (HMBC, HETCOR) ve kütle spektroskopisi yöntemleri ile yapılmıştır. Azacrown bileşiklerinin analitik kimyadaki önemi nedeniyle tez kapsamında sentezlenen bazı azacrown türü bileşiklerin camsı karbon (GC) yüzeyine modifikasyon özellikleride incelenmiştir. Modifiye yüzeylerin karakterizasyonu dönüşümlü voltametri (CV), X-ışınları fotoelektron spektroskopisi (XPS) ve yansıtmalı absorbsiyon infrared spektroskopsi (RAIRS) teknikleri ile yapılmıştır. Modifikasyon sonucu elde edilen nanofilm kalınlıkları da elipsometri tekniği kullanılarak belirlenmiştir.

In this study anti-N-(4-aminophenyl)aza-15-crown-5 glyoxime and anti-N-(4-aminophenyl)aza-15-crown-5 phenylglyoxime were prepared via the reaction of anti-chloroglyoxime and anti-chlorophenylglyoxime with N-(4-aminophenyl)aza-15-crown-5. The Ni(II), Cu(II), Co(II), Cd(II), Zn(II) complexes of these ligands were also prepared. The characterization of the newly formed compounds was done by elemental analysis, FT-IR,Uv-vis, 1D NMR (1H, 13C, DEPT), 2D NMR (HMBC, HETCOR) and ESI mass-spectrometry.And due to the importance of azacrown compounds in the field of analytical chemistry, azacrown derivatives on the glassy carbon (GC) surface has been investigated to get new insight into the modification area. The modification of these molecules onto the glassy carbon surface was verified by cyclic voltammetry (CV), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and reflection-absorption infrared spectroscopy (RAIRS). The thicknesses of the nanofilms were determined by ellipsometry