I2-II-IV-VI4 nanokristal bileşik yarıiletken ince filmlerin yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi
| dc.contributor.advisor | Yüksel, Ömer Faruk | |
| dc.contributor.advisor | Tuğluoğlu,Nihat | |
| dc.contributor.author | Kişnişci, Zeynep | |
| dc.date.accessioned | 2020-06-30T07:51:03Z | |
| dc.date.available | 2020-06-30T07:51:03Z | |
| dc.date.issued | 2018 | en_US |
| dc.date.submitted | 2018-12-06 | |
| dc.department | Enstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı | en_US |
| dc.description.abstract | Bu çalışma, Cu2ZnSnS4 (CZTS) ve Cu2ZnSnSe4 (CZTSe) nanokristal bileşik yarıiletken ince filmlerin yapısal ve optiksel özelliklerini incelemek amacıyla gerçekleştirilmiştir. Hazırlanan ince filmlerin yapısal özellikleri, x-ışını kırınımı (XRD), geçirimli elektron mikroskobu (TEM) kullanılarak karakterize edilmiştir. Spektroskopik ölçümler yardımıyla filmlerin optik özellikleri belirlenmiştir. Bu amaçla spin kaplama yöntemi kullanılarak CZTS ve CZTSe ile kaplanmış ince filmlerin optik ölçümleri (transmitans ve yansıma) yakın morötesi, görünür ve yakın kırmızıötesi spektral bölgede gerçekleştirilmiştir. Yapılan transmitans ölçümleri sonucunda direkt band aralıklı olan CZTS ve CZTSe yarıiletken ince filmlerin optik band aralıkları belirlenmiştir. Transmitans ve yansıma spektrumlarından yararlanılarak numunelerin kırılma indisi, dielektrik sabiti v.b. optik parametreleri tayin edilmiştir. Bunun yanı sıra, kırılma indisi verileri kullanılarak dispersiyon analizi yapılmış ve numunelere ait dispersiyon parametreleri hesaplanmıştır. Her iki malzeme için belirlenen optik band aralığı değerleri literatürde verilen değerlere yakın çıkmıştır. | en_US |
| dc.description.abstract | This study was performed to determine structural and optical properties of Cu2ZnSnS4 (CZTS) ve Cu2ZnSnSe4 (CZTSe) nanocrystalline compound semiconductor thin films. Structural properties of thin films were characterized using x-ray diffraction (XRD), transmission electron microscopy (TEM). Optical properties of films were determined with spectroscopic measurements. For this purpose, optical measurements (transmittance and reflectance) of thin films coated with CZTS ve CZTSe by using spin coating method were performed in near ultraviolet, visible and near infrared spectral regions. Optical band gaps of CZTS ve CZTSe semiconductor thin films having direct band gaps were determined by means of transmittance measurements. By using transmittance and reflectance spectra, optical parameters of these materials such as refractive index, dielectric constant were calculated. In addition, by using the refractive index results, dispersion analysis was performed and related dispersion parameters were obtained. Optical band gaps obtained for both materials were near at the literature values. | en_US |
| dc.identifier.citation | Kişnişci, Z. (2018). I2-II-IV-VI4 Nanokristal Bileşik Yarıiletken İnce Filmlerin Yapısal ve Optik Özelliklerinin İncelenmesi. ( Doktora Tezi). Selçuk Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Konya. | en_US |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12395/39909 | |
| dc.language.iso | tr | en_US |
| dc.publisher | Selçuk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü | en_US |
| dc.relation.publicationcategory | Tez | en_US |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en_US |
| dc.selcuk | 20240510_oaig | en_US |
| dc.subject | Bileşik yarıiletkenler | en_US |
| dc.subject | Compound semiconductors | en_US |
| dc.subject | dielektrik sabiti | en_US |
| dc.subject | dielectric constant | en_US |
| dc.title | I2-II-IV-VI4 nanokristal bileşik yarıiletken ince filmlerin yapısal ve optik özelliklerinin incelenmesi | en_US |
| dc.title.alternative | Investigation of structural and optical properties of I2-II-IV-VI4 nanocrystalline compound semiconductor thin films | en_US |
| dc.type | Doctoral Thesis | en_US |
