Stres dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahmini
Yükleniyor...
Dosyalar
Tarih
2013-12-03
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Selçuk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Bu tez çalışmasında, iki bileşenli paralel ve seri sistemlerde bileşenlerin yaşam zamanı dağılımının üstel olduğu durum için stres-dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahmini ele alınmıştır. Seri sistemlerde tek stres durumu ve iki stres durumu, paralel sistemlerde ise sadece tek stres durumu incelenmiş, her durum için stres-dayanıklılık güvenilirliğinin en çok olabilirlik ve Bayes tahminleri elde edilmiştir. Her bölümdeki simülasyon çalışmaları ile de farklı durumlar için en çok olabilirlik tahmin edicisinin yan ve hata kareler ortalaması açısından performansı incelenmiş ve ayrıca en çok olabilirlik ve Bayes tahmin edicilerinin tahmini riskler açısından karşılaştırılmaları verilmiştir.
In this thesis, it is considered that the estimation of stress-strength reliability based on masked data for parallel and series systems with two components having exponential lifetime distributions. The case of one stress and the case of two stress is examined for series systems while only the case of one stress is examined for parallel systems and also for all these cases, maximum likelihood and Bayes estimation of stress-strength reliability is obtained. With simulation studies in all sections, the performance of maximum likelihood estimation in point of bias and mean square error and also the comparison between Bayes and maximum likelihood estimates in point of estimated risks for various situations is introduced.
In this thesis, it is considered that the estimation of stress-strength reliability based on masked data for parallel and series systems with two components having exponential lifetime distributions. The case of one stress and the case of two stress is examined for series systems while only the case of one stress is examined for parallel systems and also for all these cases, maximum likelihood and Bayes estimation of stress-strength reliability is obtained. With simulation studies in all sections, the performance of maximum likelihood estimation in point of bias and mean square error and also the comparison between Bayes and maximum likelihood estimates in point of estimated risks for various situations is introduced.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
Maskeli veri, Paralel sistem, Seri sistem, Stres-dayanıklılık güvenilirliği, Masked data, Paralle system, Series system, Stress-strength reliability
Kaynak
WoS Q Değeri
Scopus Q Değeri
Cilt
Sayı
Künye
Sezer, D. (2013). Stres dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahmini. Selçuk Üniversitesi, Yayımlanmış doktora tezi, Konya.
