Stres dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahmini

dc.contributor.advisorKınacı, İsmail
dc.contributor.authorSezer, Demet
dc.date.accessioned2015-01-14T12:01:36Z
dc.date.available2015-01-14T12:01:36Z
dc.date.issued2013-12-03
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, İstatistik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractBu tez çalışmasında, iki bileşenli paralel ve seri sistemlerde bileşenlerin yaşam zamanı dağılımının üstel olduğu durum için stres-dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahmini ele alınmıştır. Seri sistemlerde tek stres durumu ve iki stres durumu, paralel sistemlerde ise sadece tek stres durumu incelenmiş, her durum için stres-dayanıklılık güvenilirliğinin en çok olabilirlik ve Bayes tahminleri elde edilmiştir. Her bölümdeki simülasyon çalışmaları ile de farklı durumlar için en çok olabilirlik tahmin edicisinin yan ve hata kareler ortalaması açısından performansı incelenmiş ve ayrıca en çok olabilirlik ve Bayes tahmin edicilerinin tahmini riskler açısından karşılaştırılmaları verilmiştir.en_US
dc.description.abstractIn this thesis, it is considered that the estimation of stress-strength reliability based on masked data for parallel and series systems with two components having exponential lifetime distributions. The case of one stress and the case of two stress is examined for series systems while only the case of one stress is examined for parallel systems and also for all these cases, maximum likelihood and Bayes estimation of stress-strength reliability is obtained. With simulation studies in all sections, the performance of maximum likelihood estimation in point of bias and mean square error and also the comparison between Bayes and maximum likelihood estimates in point of estimated risks for various situations is introduced.en_US
dc.identifier.citationSezer, D. (2013). Stres dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahmini. Selçuk Üniversitesi, Yayımlanmış doktora tezi, Konya.en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12395/1356
dc.language.isotren_US
dc.publisherSelçuk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.selcuk20240510_oaigen_US
dc.subjectMaskeli verien_US
dc.subjectParalel sistemen_US
dc.subjectSeri sistemen_US
dc.subjectStres-dayanıklılık güvenilirliğien_US
dc.subjectMasked dataen_US
dc.subjectParalle systemen_US
dc.subjectSeries systemen_US
dc.subjectStress-strength reliabilityen_US
dc.titleStres dayanıklılık güvenilirliğinin maskeli verilere dayalı tahminien_US
dc.title.alternativeEstimation of stress strength reliability based on masked dataen_US
dc.typeDoctoral Thesisen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
İsim:
Demet Sezer.pdf
Boyut:
1.83 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Demet Sezer
Lisans paketi
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim Yok
İsim:
license.txt
Boyut:
1.71 KB
Biçim:
Item-specific license agreed upon to submission
Açıklama: