Sol-jel yöntemiyle kalkoprit Cu (AlxGa1-x) Se2 (CAGS) ince filmlerinin sentezi ve karakterizasyonu
Yükleniyor...
Dosyalar
Tarih
2013-07-29
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Selçuk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Bu tez çalışmasında, ince film teknolojisinde büyük önem taşıyan CuAlxGa1-xSe2 (CAGS) ince filmler indiyum kalay oksit (ITO) alttaş üzerine büyütülmüştür. Bunun için ince film üretim yöntemleri arasında basit ve uygulanabilirliği kolay olan sol-jel yönteminin döndürme ile kaplama metodu kullanılmıştır. Değişen alüminyum (Al) ve galyum (Ga) konsantrasyonlarının CAGS ince filmlerin yapısal, morfolojik ve optiksel özellikleri üzerindeki etkileri incelenmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden (XRD), artan Al konsantrasyonuyla filmlerin kristal yapılarının iyileştiği görülmüştür. Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) görüntüleriyle filmlerin iki boyutlu ve üç boyutlu yüzey görüntüleri alınmış ve bu filmlerin yüzeye iyi bir şekilde tutunduğu, homojen bir dağılım sergilediği ve taneli bir yapılanmanın varlığı dikkat çekmiştir. Ayrıca, filmlerin optiksel analiz ölçümleri yardımıyla geçirgenlik, yasak enerji band aralığı, kırılma indisi, eğrilik (bükülme ) parametresi gibi bazı optik parametreleri hesaplanmıştır.
In this thesis, CuAlxGa1-xSe2 (CAGS) thin films which have a great importance for thin film technology were grown on indium tin oxide (ITO) substrate. Among the thin film production methods, sol-gel spin coating method having some benefits such as basic and easy applicable was used. To investigate the effect of varying concentrations of aluminium (Al) and gallium (Ga) on the physical properties of CAGS thin films, the structural, morphological and optical properties of growth thin films were examined. It is seen from the X-ray diffraction results that crystallinity is improved with increasing Al concentration. Two and three dimensional surface topography of these thin films have been examined by atomic force microscopy (AFM). From these images, good adhesion onto substrate, a homogeneous distribution and existence of a granular structure on the surface have been noticed. Besides, some optical parameters such as transparency, band energy gap, refractive index, bowing parameter have been calculated from the optical measurements.
In this thesis, CuAlxGa1-xSe2 (CAGS) thin films which have a great importance for thin film technology were grown on indium tin oxide (ITO) substrate. Among the thin film production methods, sol-gel spin coating method having some benefits such as basic and easy applicable was used. To investigate the effect of varying concentrations of aluminium (Al) and gallium (Ga) on the physical properties of CAGS thin films, the structural, morphological and optical properties of growth thin films were examined. It is seen from the X-ray diffraction results that crystallinity is improved with increasing Al concentration. Two and three dimensional surface topography of these thin films have been examined by atomic force microscopy (AFM). From these images, good adhesion onto substrate, a homogeneous distribution and existence of a granular structure on the surface have been noticed. Besides, some optical parameters such as transparency, band energy gap, refractive index, bowing parameter have been calculated from the optical measurements.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
CuAlxGa1-xSe, Sol-gel method, İnce film, Structural, Sol-jel yöntemi, Morphological and optical characterization, Yapısal, Thin film, Morfolojik ve optiksel karakterizasyon
Kaynak
WoS Q Değeri
Scopus Q Değeri
Cilt
Sayı
Künye
Akman, E. (2013). Sol-jel yöntemiyle kalkoprit Cu (AlxGa1-x) Se2 (CAGS) ince filmlerinin sentezi ve karakterizasyonu. Selçuk Üniversitesi, Yayımlanmış yüksek lisans tezi, Konya.