Sol-jel yöntemiyle kalkoprit Cu (AlxGa1-x) Se2 (CAGS) ince filmlerinin sentezi ve karakterizasyonu

dc.contributor.advisorSönmezoğlu, Savaş
dc.contributor.authorAkman, Erdi
dc.date.accessioned2017-08-04T11:27:03Z
dc.date.available2017-08-04T11:27:03Z
dc.date.issued2013-07-29
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractBu tez çalışmasında, ince film teknolojisinde büyük önem taşıyan CuAlxGa1-xSe2 (CAGS) ince filmler indiyum kalay oksit (ITO) alttaş üzerine büyütülmüştür. Bunun için ince film üretim yöntemleri arasında basit ve uygulanabilirliği kolay olan sol-jel yönteminin döndürme ile kaplama metodu kullanılmıştır. Değişen alüminyum (Al) ve galyum (Ga) konsantrasyonlarının CAGS ince filmlerin yapısal, morfolojik ve optiksel özellikleri üzerindeki etkileri incelenmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden (XRD), artan Al konsantrasyonuyla filmlerin kristal yapılarının iyileştiği görülmüştür. Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) görüntüleriyle filmlerin iki boyutlu ve üç boyutlu yüzey görüntüleri alınmış ve bu filmlerin yüzeye iyi bir şekilde tutunduğu, homojen bir dağılım sergilediği ve taneli bir yapılanmanın varlığı dikkat çekmiştir. Ayrıca, filmlerin optiksel analiz ölçümleri yardımıyla geçirgenlik, yasak enerji band aralığı, kırılma indisi, eğrilik (bükülme ) parametresi gibi bazı optik parametreleri hesaplanmıştır.en_US
dc.description.abstractIn this thesis, CuAlxGa1-xSe2 (CAGS) thin films which have a great importance for thin film technology were grown on indium tin oxide (ITO) substrate. Among the thin film production methods, sol-gel spin coating method having some benefits such as basic and easy applicable was used. To investigate the effect of varying concentrations of aluminium (Al) and gallium (Ga) on the physical properties of CAGS thin films, the structural, morphological and optical properties of growth thin films were examined. It is seen from the X-ray diffraction results that crystallinity is improved with increasing Al concentration. Two and three dimensional surface topography of these thin films have been examined by atomic force microscopy (AFM). From these images, good adhesion onto substrate, a homogeneous distribution and existence of a granular structure on the surface have been noticed. Besides, some optical parameters such as transparency, band energy gap, refractive index, bowing parameter have been calculated from the optical measurements.en_US
dc.description.sponsorshipBu tez çalışması TÜBİTAK tarafından 113F190 proje numarasıyla desteklenmiştir.en_US
dc.identifier.citationAkman, E. (2013). Sol-jel yöntemiyle kalkoprit Cu (AlxGa1-x) Se2 (CAGS) ince filmlerinin sentezi ve karakterizasyonu. Selçuk Üniversitesi, Yayımlanmış yüksek lisans tezi, Konya.en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12395/5377
dc.language.isotren_US
dc.publisherSelçuk Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsüen_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.selcuk20240510_oaigen_US
dc.subjectCuAlxGa1-xSeen_US
dc.subjectSol-gel methoden_US
dc.subjectİnce filmen_US
dc.subjectStructuralen_US
dc.subjectSol-jel yöntemien_US
dc.subjectMorphological and optical characterizationen_US
dc.subjectYapısalen_US
dc.subjectThin filmen_US
dc.subjectMorfolojik ve optiksel karakterizasyonen_US
dc.titleSol-jel yöntemiyle kalkoprit Cu (AlxGa1-x) Se2 (CAGS) ince filmlerinin sentezi ve karakterizasyonuen_US
dc.title.alternativeSynthesis and characterization of chalcopyrite Cu (AlxGa1-x) Se2 (CAGS) thin films by using sol-gel methoden_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Orijinal paket
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
İsim:
Erdi Akman.pdf
Boyut:
1.83 MB
Biçim:
Adobe Portable Document Format
Açıklama:
Lisans paketi
Listeleniyor 1 - 1 / 1
Küçük Resim Yok
İsim:
license.txt
Boyut:
1.51 KB
Biçim:
Item-specific license agreed upon to submission
Açıklama: